Nearfield Instruments krijgt grote order van halfgeleiderproductiefabriek in Azië

QUADRA is het hoogste-throughput atomic force microscopy (AFM) metrologiesysteem van de halfgeleiderindustrie, ontworpen voor in-line, on-device, niet-destructieve driedimensionale (3D) metrologie. Dit systeem is essentieel voor het versnellen van time-to-yield en het optimaliseren van high-volume manufacturing (HVM) yield voor geavanceerde halfgeleiderfabrieken.

Lightning Mode

De bestelling omvat ook Nearfield's onlangs gelanceerde Lightning Mode, een nieuwe functie voor QUADRA die de productiviteit en doorvoer aanzienlijk verhoogt, en Nearfield's eigen beeldalgoritme en data-analysesoftware om klanten te helpen de procesuitdagingen aan te pakken die ontstaan ​​door krimpende geometrieën, complexe 3D-structurering en geavanceerde verpakking voor High Bandwidth Memory (HBM).

" We zijn verheugd om deze order te ontvangen van een toonaangevende geavanceerde fab in Azië, die agressief blijft groeien om te voldoen aan de groeiende vraag naar geavanceerde apparaten zoals HBM die AI-toepassingen mogelijk maken ", aldus Hamed Sadeghian, CEO van Nearfield Instruments. " We zijn er trots op dat onze procesbesturingsoplossingen voldoen aan de uitdagende vereisten van de halfgeleiderproductie van geavanceerde apparaten en van toekomstige knooppunten op angstromniveau. Met onze snelle time-to-solution en niet-destructieve systemen zetten we ons in om bij te dragen aan groenere halfgeleiderfabs."